涂(tu)層(ceng)測厚儀可無損地測量磁性(xing)金屬基體(如(ru)鋼(gang)、鐵、合金和硬磁性(xing)鋼(gang)等)上非磁性(xing)涂(tu)層(ceng)的(de)厚度(如(ru)鋁、鉻、銅、琺瑯、橡(xiang)膠、油漆等(deng)) 及非(fei)磁(ci)性(xing)金屬基體(ti)(如(ru)銅、鋁、鋅(xin)、錫等(deng))上非(fei)導電覆層(ceng)的厚度(如(ru):琺瑯、橡(xiang)膠、油漆、塑料等(deng))。

影響(xiang)涂層測(ce)厚儀測(ce)量(liang)值度的因素(su)

影(ying)響因素(su)的有關說明(ming)

a 基體金屬磁性質

磁性法測厚受基(ji)體金(jin)屬磁性變化的影響(xiang)(在實(shi)際(ji)應用(yong)中，低碳鋼磁性的變化可(ke)以認為(wei)是(shi)輕微的)，為(wei)了避(bi)免熱處(chu)理(li)和冷因素的影響(xiang)，應使用(yong)與試件基(ji)體金(jin)屬具(ju)有相同性質的標準片(pian)對儀器行(xing)(xing)校(xiao)準;亦可(ke)用(yong)待涂(tu)覆試件行(xing)(xing)校(xiao)準。

b 基體金屬電性質

基(ji)體金屬的(de)(de)電導率對測(ce)量(liang)有(you)(you)影響，而基(ji)體金屬的(de)(de)電導率與其材料成分(fen)及(ji)熱處理方(fang)法有(you)(you)關(guan)。使用與試件基(ji)體金屬具有(you)(you)相同性質的(de)(de)標準(zhun)片對儀器行(xing)校準(zhun)。

c 基體金屬厚度

每種儀器都有個(ge)基體金屬(shu)的臨界(jie)厚度(du)。大于(yu)這個(ge)厚度(du)，測量(liang)就不(bu)受基體金屬(shu)厚度(du)的影響。本儀器的臨界(jie)厚度(du)值見(jian)附表(biao)1。

d 邊緣效應

本儀器對試件(jian)表面形狀的(de)陡變敏感。因此在靠近試件(jian)邊緣或(huo)內(nei)轉角處行測(ce)量(liang)是不(bu)可靠的(de)。

e 曲率

試(shi)(shi)件的(de)曲(qu)率(lv)對測量(liang)有影響。這(zhe)種影響總是(shi)隨著曲(qu)率(lv)半徑的(de)減少(shao)明顯地增(zeng)大。因此，在彎曲(qu)試(shi)(shi)件的(de)表面(mian)上測量(liang)是(shi)不可靠的(de)。

f 試件的變形

測頭會使(shi)軟覆蓋層試件變形，因此在(zai)這些試件上測出(chu)可(ke)靠的數據。

g 表面粗糙度

基(ji)體金(jin)(jin)屬和覆蓋層的(de)表面粗糙(cao)(cao)程(cheng)度(du)對(dui)測量(liang)有影(ying)響。粗糙(cao)(cao)程(cheng)度(du)增大，影(ying)響增大。粗糙(cao)(cao)表面會引起系統(tong)誤(wu)差和偶(ou)然(ran)誤(wu)差，每次測量(liang)時，在(zai)不(bu)同(tong)位置上應增加測量(liang)的(de)次數，以克服這種偶(ou)然(ran)誤(wu)差。如果(guo)基(ji)體金(jin)(jin)屬粗糙(cao)(cao)，還在(zai)未涂覆的(de)粗糙(cao)(cao)度(du)相類似的(de)基(ji)體金(jin)(jin)屬試件(jian)上取幾個(ge)位置校對(dui)儀(yi)器(qi)(qi)的(de)零(ling)點(dian);或用對(dui)基(ji)體金(jin)(jin)屬沒有腐蝕的(de)溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(dui)儀(yi)器(qi)(qi)的(de)零(ling)點(dian)。

g 磁場

周圍各(ge)種電氣(qi)設備(bei)所產(chan)生的強(qiang)磁場，會嚴(yan)重地干擾(rao)磁性法測厚作(zuo)。

h 附著物質

本儀器對那些妨礙測(ce)(ce)頭與覆蓋(gai)層表面緊密接觸(chu)的附著(zhu)物質敏感，因此，清(qing)除附著(zhu)物質，以保證儀器測(ce)(ce)頭和被測(ce)(ce)試件表面直(zhi)接接觸(chu)。

i 測頭壓力

測頭置于試件(jian)上(shang)所施加(jia)的壓(ya)力大小會影響(xiang)測量的讀數，因此，要(yao)保持壓(ya)力恒定。

j 測頭的取向

測頭的放置方式(shi)對(dui)測量有影(ying)響(xiang)。在測量中，應當(dang)使測頭與試樣(yang)表面(mian)保持(chi)垂直。

使用儀器時應(ying)當(dang)遵(zun)守的(de)規定(ding)

a 基體金屬性

對于磁性(xing)方法(fa)，標準片(pian)的(de)基體(ti)金屬(shu)(shu)的(de)磁性(xing)和表(biao)面粗糙度，應當與試件基體(ti)金屬(shu)(shu)的(de)磁性(xing)和表(biao)面粗糙度相似。 對于渦方法(fa)，標準片(pian)基體(ti)金屬(shu)(shu)的(de)電(dian)性(xing)質(zhi)，應當與試件基體(ti)金屬(shu)(shu)的(de)電(dian)性(xing)質(zhi)相似。

b 基體金屬厚度

檢查基體金屬(shu)厚度是(shi)否過臨界(jie)厚度，如果沒(mei)有(you)，可采用3.3中的(de)某(mou)種方法行校(xiao)準。

c 邊緣效應

不應(ying)在緊靠試件(jian)的突變處(chu)，如邊緣、洞和內轉角等處(chu)行測量。

d 曲率

不應(ying)在試件的彎(wan)曲表面(mian)上測量。

e 讀數次數

通常(chang)由于儀(yi)器的(de)每次(ci)讀數并不(bu)相同，因此在(zai)每測量面積內(nei)取幾個讀數。覆(fu)蓋層(ceng)厚度的(de)局差異，也要求在(zai)給定的(de)面積內(nei)行(xing)多次(ci)測量，表面粗時更應如此。

f 表面清潔度

測量前，應清除(chu)表面上的何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除(chu)去何覆蓋層物質

涂(tu)層測厚儀(yi)中F，N以及FN的(de)區別:

F代表ferrous 鐵(tie)磁(ci)性基體，F型的(de)涂層(ceng)(ceng)(ceng)測厚儀采用電(dian)磁(ci)感應原理， 來測量鋼、鐵(tie)等鐵(tie)磁(ci)質金屬基體上的(de)非(fei)鐵(tie)磁(ci)性涂層(ceng)(ceng)(ceng)、鍍層(ceng)(ceng)(ceng)，例如:漆(qi)、粉末(mo)、塑料、橡膠、合成材料、磷化(hua)層(ceng)(ceng)(ceng)、鉻、鋅(xin)、鉛、鋁(lv)、錫、鎘、瓷(ci)、琺瑯、氧(yang)化(hua)層(ceng)(ceng)(ceng)等。

N代(dai)表Non- ferrous非(fei)鐵磁性基(ji)體，N型的(de)涂層測厚儀采(cai)用(yong)電渦原(yuan)理;來測量用(yong)渦傳感器測量銅、鋁、鋅(xin)、錫等基(ji)體上的(de)琺瑯(lang)、橡(xiang)膠(jiao)、油漆、塑料層等。

FN型(xing)的涂層(ceng)測厚儀既(ji)采用(yong)電磁感應原理，又采用(yong)采用(yong)電渦原理，是F型(xing)和(he)N型(xing)的二合(he)型(xing)涂層(ceng)測厚儀。